华兴源创申请缺陷检测专利，提高缺陷检测准确性

本文源自:金融界

金融界2025年4月18日消息，国家知识产权局信息显示，华兴源创（深圳）科技有限公司申请一项名为“7052.缺陷检测方法、装置、计算机设备、可读存储介质”的专利，公开号CN119810024A，申请日期为2024年12月。

专利摘要显示，本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待检测对象对应的灰度图像，并在所述灰度图像的预设检测范围内，确定多个目标像素点，所述目标像素点中包括待检测像素点和参考像素点；根据每个所述目标像素点和对应的邻域像素点之间的关联关系，确定所述多个目标像素点对应的参考特征值以及所述待检测像素点对应的图像特征值；根据所述参考特征值和所述图像特征值，确定所述目标像素点的缺陷检测结果。采用本方法能够提高缺陷检测准确性。

天眼查资料显示，华兴源创（深圳）科技有限公司，成立于2019年，位于深圳市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本2000万人民币。通过天眼查大数据分析，华兴源创（深圳）科技有限公司专利信息14条，此外企业还拥有行政许可6个。