诺瓦星云申请LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备专利，可获取LED屏缺陷的信息

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国家知识产权局信息显示，西安诺瓦星云科技股份有限公司申请一项名为“LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备”的专利，公开号CN121049297A，申请日期为2024年5月。

专利摘要显示，本申请适用于LED显示屏领域，提供了一种LED屏缺陷测试方法、装置、系统及电子设备，其中该方法包括：根据LED屏缺陷的类型和LED屏的参数生成测试画面，测试画面用于测试LED屏的缺陷程度；控制LED屏显示测试画面；获取测试图像，测试图像为拍摄设备对显示测试画面的LED屏拍摄而得到的图像；对测试图像进行处理以获取LED屏缺陷的信息，LED屏缺陷的信息包括是否存在LED屏缺陷，在存在LED屏缺陷的情况下，LED屏缺陷的位置、严重程度中的至少一种。

天眼查资料显示，西安诺瓦星云科技股份有限公司，成立于2008年，位于西安市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本9244.8万人民币。通过天眼查大数据分析，西安诺瓦星云科技股份有限公司共对外投资了18家企业，参与招投标项目1354次，财产线索方面有商标信息373条，专利信息1818条，此外企业还拥有行政许可30个。

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